Automatic Testing and Evaluation of Digital Integrated Circuits - James T. Healy - książka wyd. 1981

Opis

„Automatic Testing and Evaluation of Digital Integrated Circuits” to książka koncentrująca się na automatyzacji procesu testowania układów cyfrowych, omawia metody wykrywania błędów i defektów w projektach układów scalonych, techniki generowania wzorców testowych, analizy wyników pomiarów oraz oceny jakości i niezawodności chipów, przedstawia zarówno teoretyczne podstawy testowania cyfrowego, jak i praktyczne narzędzia i algorytmy stosowane w przemyśle elektronicznym do zapewnienia poprawności działania złożonych układów scalonych.